Microscopios de medición (MM-400/800)

Nikon Metrology

Microscopios de Medición MM 400-800

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Descripción

La MM400/800 es una nueva serie de innovadores microscopios de medición diseñados para análisis de imágenes y medición industrial. Integran características de rendimiento fundamentales que ofrecen pleno control digital para maximizar la precisión de la medición en los exigentes entornos industriales.

Los sistemas admiten una serie de características nuevas y ampliadas como el concentrador de conexiones electrónicas de Nikon, que ofrece integración total de los periféricos administrados por el software de metrología EMAX2 de Nikon.

Principales ventajas

  • Mayor precisión
  • Captura de imágenes digitales y metrología de procesamiento de imágenes
  • Platina más grande para mejorar la manipulación de la pieza de trabajo
  • Mediciones sin contacto de altura Z
  • Coordinación con sistemas de procesamiento de datos DP-E1

Aplicaciones

  • Análisis de superficies, examen de superficies, examen manual,
  • Fabricación de plástico, fabricación de metal
  • Implantes/prótesis, teléfonos móviles, afeitadoras y relojes
  • Microelectrónica, optoelectrónica
  • Telecomunicaciones y electrónica, antenas, óptica de telescopios

 

CARACTERÍSTICAS Y ESPECIFICACIONES TÉCNICAS:

  • Procesador de datos
    El procesador de datos DP-E1A es un sistema de cálculo para medir características geométricas con facilidad. El cuerpo compacto cuenta con un contador con lectura de 0.1µm. La pantalla LCD de 320 x 240 píxeles facilita aún más el uso. Eficaz cuando se utiliza en conjunto con un microscopio de medición/proyector de perfil, calcula rápidamente características geométricas con una operación sencilla e interactiva. Los resultados de medición se memorizan automáticamente como pasos didácticos y pueden utilizarse fácilmente como rutina de medición. Respalda la especificación de dimensiones y tolerancias geométricas (GD&T) ANSI Y14.5M. Además de las tolerancias de ubicación como posición teórica, CMM y LMC, la determinación de forma, orientación y descentramiento puede realizarse interactivamente. Pantalla disponible en inglés, alemán, japonés, coreano y chino simplificado.

 

  • Nueva platina 12×8 para piezas de trabajo grandes (solo MM-800)
    El diseño del cuerpo mejorado mediante ingeniería asistida por computadora para análisis estructural permite montar una platina más grande a fin de adaptarse a piezas de trabajo más grandes. Puede montarse una platina de 300 x 200 mm (12 x 8 pulg.) de recorrido en el MM-800.

 

  • Objetivos de alto rendimiento
    Serie CFI60 LU fluorita Plan: El índice de transmisión de longitud de onda UV ha sido mejorado en la nueva serie CFI60 LU fluorita Plan. Estas lentes objetivo son aptas para diversas necesidades de investigación, análisis y examen, junto con mantener el compromiso de Nikon con la AN alta y la distancia de trabajo prolongada. Se necesita un solo tipo de lente objetivo para observación de campo claro, campo oscuro, polarización simple, DIC y epifluorescencia UV. Estas lentes ofrecen alta resolución y facilidad de uso.

 

  • Serie CFI60 L Plan EPI CR de lentes objetivo con anillo de corrección: La serie CFI60 ahora incluye los objetivos de la serie L Plan EPI CR para adaptarse al cristal de cubierta más delgado que se utiliza en pantallas de cristal líquido y dispositivos altamente integrados y densos. La corrección del cristal de cubierta puede realizarse continuamente de 0 mm hasta 1.2 mm (0-0.7 mm y 0.6-1.3 mm para 100 aumentos) con el anillo de corrección. La lente objetivo de 100 aumentos ofrece AN de 0.85 y permite captura de imágenes de alto contraste de células y patrones sin verse afectada por el cristal de cubierta.

 

  • Configuraciones versátiles
    El diseño del microscopio de medición de la serie MM-400/800 ha sido modernizado para ofrecer mayor flexibilidad a los usuarios al momento de seleccionar módulos de configuración del sistema. El sistema puede configurarse según sus necesidades con los objetivos extra largos (1 a 100 aumentos) o la configuración de sistema universal mediante objetivos de microscopio en una torreta giratoria. Además, la construcción del microscopio completo ostenta mejor rigidez y ofrece grandes platinas digitales de alta precisión. La legendaria construcción de Nikon mantiene su excelente confiabilidad y precisión de la medición durante años de uso pesado.

 

  • Conectable con lectores digitales de otros fabricantes (modelos S)
    Los modelos MM-400S, SL y MM-800S, SL fueron creados para utilizarse con Metronics Quadra-Chek y otros lectores digitales de otros fabricantes. Ofrecen una alternativa económica si se utilizan procesadores de datos que no sean Nikon.
  • Software de procesamiento de datos E-MAX
    El rendimiento de medición de imágenes digitales del software E-MAX ha sido aumentado. En combinación con la cámara digital y el microscopio de medición de Nikon, el sistema logra mediciones de imágenes digitales con una precisión que antes era imposible.

 

  • Autoenfoque láser TTL
    Estos son los primeros microscopios de medición en ofrecer autoenfoque láser TTL optativo. Este sistema de autoenfoque láser cuenta con una velocidad de enfoque de 0.5 segundos y una repetibilidad de hasta 0.5 µm (objetivo de 20 aumentos, diámetro de punto de 0.75 µm).

 

  • Ayuda de enfoque (FA)
    La nueva ayuda de enfoque (FA) con prisma dividido entrega patrones nítidos para permitir enfoque preciso durante mediciones del eje Z. Se minimizan los errores de medición por diferencias de profundidad de campo de los distintos objetivos.

 

  • Control de luz continuo incorporado
    El sistema cuenta con control de luz continuo, que permite controlar la luz desde la PC sin tocar el dial en el cuerpo principal para asegurar la repetibilidad de la medición. Ahora es posible realizar mediciones en las mismas condiciones, para asegurar una detección precisa de bordes en video y así lograr mediciones automatizadas repetibles.

 

  • Luz LED de anillo de 8 segmentos CYN-E1
    La luz de anillo permite controlar la iluminación desde ocho direcciones. Puede controlarse por computadora con el software E-Max para lograr repetibilidad de la medición. Permite definición de bordes y artefactos de piezas difíciles de captar gracias al control del ángulo y la intensidad de los 8 segmentos.

 

  • Movimiento motorizado del eje Z (bases del modelo LM)
    Se ha incorporado un mecanismo de movimiento vertical motorizado con 10 mm/seg. de velocidad. Control ascendente/descendente preciso gracias al controlador dedicado.
  • Captura de imágenes digitales y procesamiento de imágenes
    El uso de una cámara digital de microscopio Nikon y software E-MAX simplificará el flujo de trabajo de la observación y la captura al almacenamiento de imágenes digitales de alta definición de las piezas de trabajo.
  • Interfaz de mochila del controlador MM
    Los datos de iluminación, la platina X/Z y de Z pueden conectarse al controlador MM como interfaz a una computadora externa que ejecute el software E-MAX para procesamiento de datos y control del sistema.

 

  • Iluminador LED blanco
    Se suministran iluminadores LED blancos de alta intensidad como estándar para iluminación de superficies y contornos. Este iluminador no requiere cambio de bombillas y cuenta con temperatura de color constante, para permitir la medición con alta precisión y eficiencia. Para el tipo universal (excepto FA) se incluye una luz halógena de 12V/50W de nuevo diseño. Se ha mejorado notablemente el brillo, en particular con aumentos altos.
  • Diferentes bases según la función
    Puede seleccionar lo que necesite, sin necesidad de pagar el resto.
    La serie MM400 admite platinas digitales de hasta 6” x 4” y altura Z de 150 mm, mientras la MM800 admite una platina de hasta 12” X 6” para piezas más grandes con hasta 200 mm de altura.
    Las bases de MM400/800 para uso con lectores Nikon y software de procesamiento de datos Emax tienen sus propias placas de codificación incorporadas. Las bases de la serie S son para procesadores de datos de otros fabricantes (Metronics Quadra Check) y tienen un costo menor. Bases que requieren Z
    La medición de altura del eje se designa con la letra “L” (codificador lineal) y las bases con altura del eje Z motorizadas se designan con “LM” (codificador lineal y motorizadas).

Descarga de Certificado

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