Microscopio Super Resolución (N-SIM)

Nikon Instruments

Sistemas de Microscopía de Súoer Resolución SIM

Solicitar Cotización

Descripción

Duplicar el límite de resolución convencional en la adquisición de imágenes de lapso de tiempo de células vivas.
El microscopio S Super Resolution de N-SIM utiliza un exclusivo sistema de iluminación estructurada de alta velocidad para alcanzar velocidades de adquisición de hasta 15 fps, permitiendo capturar procesos biológicos rápidos al doble de la resolución espacial de los microscopios ópticos convencionales (hasta 115nm en XY) . La combinación de N-SIM S y un microscopio confocal le brinda la flexibilidad de seleccionar una zona en la imagen confocal y cambiar al modo de súper resolución para ver zona deseada con todo detalle.

CARACTERÍSTICAS PRINCIPALES:

  • Imágenes de súper resolución de alta velocidad a 15 fps: el nuevo sistema de iluminación estructurada de alta velocidad de Nikon utiliza una novedosa tecnología de modulación de patrones para generar una conmutación rápida y precisa de los patrones de iluminación. El N-SIM S logra increíbles velocidades de adquisición (hasta 15 fps *), lo que permite obtener imágenes de lapso de tiempo de súper resolución de células vivas y de dinámica intracelular.
  • El N-SIM S utiliza el enfoque innovador de Nikon para la tecnología de microscopía de iluminación estructurada: al combinar esta poderosa tecnología con los reconocidos objetivos de Nikon, que logran una apertura numérica incomparable de 1,49, la N-SIM S casi duplica (hasta aproximadamente 115 nm *) la resolución espacial de los microscopios ópticos convencionales, permitiendo la visualización detallada de estructuras intracelulares diminutas y sus funciones interactivas.
  • Cambio automático entre los modos de iluminación: la tecnología de iluminación estructurada de alta velocidad recién desarrollada no sólo permite velocidades de adquisición rápidas, sino también la conmutación automática entre los modos de iluminación y la optimización automática de los patrones de iluminación estructurados para diferentes longitudes de onda y aumentos. Esta automatización ampliada permite una rápida generación de imágenes TIRF-SIM de 2 colores, así como la multiplexación de diferentes modalidades de SIM. El N-SIM S proporciona flujos de trabajo simplificados y fáciles de usar, ya sea para experimentos de imágenes de único modo o multimodales.
  • Adquirir campos de visión más grandes: N-SIM S puede adquirir imágenes de súper resolución con un gran campo de visión de 66 μm cuadrados. Este área de imágenes más grande permite un rendimiento muy alto para aplicaciones / muestras que se benefician de campos de visión más amplios, como las neuronas, lo que reduce la cantidad de tiempo y el esfuerzo necesarios para obtener datos.

Varios modos de observación

  • Modo TIRF-SIM / 2D-SIM: este modo captura imágenes bidimensionales de alta resolución a gran velocidad con un contraste increíble. El modo TIRF-SIM permite la observación de reflexión interna total de fluorescencia (TIRF) al doble de la resolución de los microscopios TIRF convencionales, lo que facilita un mayor entendimiento de las interacciones moleculares en la superficie celular.
  • Modo 3D-SIM: el modo 3D-SIM genera patrones de iluminación estructurados en tres dimensiones para ofrecer una mejora de dos veces en las resoluciones laterales y axiales. Se encuentran disponibles dos métodos de reconstrucción («slice» y «stack») para optimizar los resultados de acuerdo con los requisitos de la aplicación (por ejemplo, grosor de muestra, velocidad, etc.). La reconstrucción de ¨slice es adecuada para obtener imágenes de células vivas a profundidades específicas, ya que permite obtener imágenes de súper resolución axial con secciones ópticas a una resolución de 300 nm. La reconstrucción de ¨stack, basada en la teoría de Gustafsson, es adecuada para la adquisición de datos de volumen, ya que puede obtener imágenes de especímenes más gruesos con mayor contraste que la reconstrucción de ¨slice.

 

  • Imágenes simultáneas de dos canales: es posible la creación simultánea de imágenes con dos colores utilizando un adaptador opcional de dos cámaras * y dos cámaras sCMOS.
  • Conmutación perfecta entre las modalidades de imágenes para experimentos a múltiples escalas:
    El N-SIM S se puede combinar simultáneamente con un microscopio confocal como el A1 +. Se puede especificar una zona deseada en una muestra en una imagen confocal de campo de visión grande / bajo aumento y puede adquirirse en modo de súper resolución simplemente cambiando el método de formación de imágenes. La combinación de un microscopio confocal con un sistema de súper resolución puede proporcionar un método para obtener vistas contextuales más amplias de información de súper resolución.

 

Objetivos para microscopios de súper resolución

  • Objetivos de inmersión de silicona: los objetivos de inmersión en silicona utilizan aceite de silicona de alta viscosidad con un índice de refracción cercano al de las células vivas como líquido de inmersión. Debido a esta compatibilidad mejorada del índice de refracción, estos objetivos pueden proporcionar una mejor capacidad de recolección de fotones y resolución al obtener imágenes de súper-resolución más profundas en la muestra. Presentan corrección de aberración cromática superior y alta transmitancia en un amplio rango de longitudes de onda.
  • Objetivos de inmersión: los objetivos de la serie SR se alinean e inspeccionan utilizando la tecnología de medición de aberración de frente de onda para garantizar una aberración asimétrica lo más baja posible y un rendimiento óptico superior requerido para obtener imágenes de súper resolución. Los objetivos del modelo HP proporcionan una durabilidad de excitación láser de potencia ultra alta y una corrección de aberración cromática axial mejorada, eliminando la necesidad de cambiar objetivos entre los sistemas N-SIM S y N-STORM. Los objetivos de tipo AC que admiten el Collar de Corrección Automática del microscopio Ti2-E permiten un ajuste preciso y fácil del collar de corrección.
  • Objetivos secos: el N-SIM S es compatible con objetivos secos, lo que hace que las imágenes de súper resolución y las imágenes confocales estén disponibles sin necesidad de cambiar de objetivo. Las lentes secas de bajo aumento y gran campo de visión permiten una observación de alta resolución incluso en la periferia de los tejidos de muestra.

Descarga de Certificado

N-SIM_N-STORM_2CE-SCJH-2

Productos relacionados