Descripción
CARACTERÍSTICAS Y ESPECIFICACIONES TÉCNICAS
- El cuerpo del microscopio ECLIPSE se ha modularizado para cumplir con las aplicaciones de microscopios industriales en diversos campos de la industria, incluidos dispositivos semiconductores, embalaje, FPD, electrónica, componentes, materiales y moldes de precisión.
- La serie ECLIPSE LV, con unidades de soporte y unidades de iluminación seleccionables según la observación método y propósito para cumplir con una variedad de métodos de observación, ha ganado un nuevo sistema óptico y novedades en su continua evolución.
- Cuatro tipos: tipos motorizados y manuales más iluminación reflejada dedicada y combinada
tipos de iluminación reflejada / transmitida: están disponibles para adaptarse a cualquier aplicación.
- Diversos métodos de observación
Las combinaciones de una gama completa de accesorios amplían los métodos de observación disponibles al utilizar iluminación transmitida, lo que permite la adaptabilidad a una mayor diversidad de muestras.
- Todos los modelos permiten campo claro, campo oscuro, interferencia diferencial, fluorescencia, polarización y dos haces observación de interferometría, mientras que LV100DA y LV100DA-U también permiten diferenciales de transmisión, observación de interferencias, campo oscuro, polarización y contraste de fase.
LV-N brochure 2CE-KHOH-1 (1)
