Descripción
Espectrómetro secuencial WDXRF de sobremesa de alta potencia
Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas
CARACTERÍSTICAS Y ESPECIFICACIONES TÉCNICAS:
- Analiza desde oxígeno hasta uranio (O → U)
- Analiza sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas
- Atmósfera: helio o vacío
- Tubo de rayos X: 50 kV, ánodo de Paladio de 200 W
- Filtro de haz primario: Zr estándar; Al opcional
- Detectores: contador de centelleo y F-PC
- Cristales: cambiador de 3 posiciones
- Tamaño de la muestra: capaz de acomodar muestras de 51,5 mm de diámetro
- Cambiador automático de muestras
- Estándar: 10 posiciones de muestra (para muestras de 51,5 mm de diámetro)
- Opcional: 12 posiciones de muestra (muestras de hasta 44 mm de diámetro)
- Vacío: bomba rotativa estándar
- Potencia: 200 – 240V (50/60Hz) 10A
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