Descripción
Análisis de fase cualitativo y cuantitativo de materiales policristalinos.
CARACTERÍSTICAS Y ESPECIFICACIONES TÉCNICAS:
El nuevo difractómetro de rayos X de sobremesa MiniFlex de sexta generación es un instrumento analítico de difracción de polvo multipropósito que puede realizar:
- Identificación de fase cristalina (ID de fase) y cuantificación
- Porcentaje (%) de cristalinidad, tamaño y tensión de los cristalitos
- Refinamiento de parámetros de red
- Refinamiento de Rietveld y análisis molecular estructural
Es ampliamente utilizado en investigación, especialmente en ciencia de materiales y química, así como en la industria para investigación y control de calidad.
Es la última incorporación a la serie MiniFlex de analizadores de difracción de rayos X de sobremesa de Rigaku, que comenzó con la introducción del sistema MiniFlex XRD original hace décadas.
MiniFlex WEB
