Difractómetro de Rayos X en polvo de mesada serie MiniFlex

Rigaku

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Descripción

Análisis de fase cualitativo y cuantitativo de materiales policristalinos.

 El nuevo difractómetro de rayos X de sobremesa MiniFlex de sexta generación es un instrumento analítico de difracción de polvo multipropósito que puede realizar: identificación de fase cristalina (ID de fase) y cuantificación, porcentaje (%) de cristalinidad, tamaño y tensión de los cristalitos, refinamiento de parámetros de red, refinamiento de Rietveld y análisis molecular  estructural. Es ampliamente utilizado en investigación, especialmente en ciencia de materiales y química, así como en la industria para investigación y control de calidad. Es la última incorporación a la serie MiniFlex de analizadores de difracción de rayos X de sobremesa de Rigaku, que comenzó con la introducción del sistema MiniFlex XRD original hace décadas.

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