Medición industrial - MICROLAT

Medición industrial

Exploración en recorridos de inspección K-Scan MMDx

K-Scan MMDx es un escáner láser portátil para recorridos de inspección para aplicaciones de metrología portátiles en un gran volumen de trabajo.

ModelMaker MMCx

El ModelMaker MMCx es el escáner portátil de nivel básico especialmente indicado para inspección 3D portátil y aplicaciones de ingeniería inversa.

ModelMaker MMDx

El ModelMaker MMDx es el escáner portátil de nivel superior especialmente indicado para inspección 3D portátil y aplicaciones de ingeniería inversa.

Escáneres cruzado digitales de CMM XC65Dx(-LS)

El multi laser escáner XC65Dx(-LS) captura todas las superficies 3D y funciones en un solo barrido.

Escáneres láser digitales de CMM LC50Cx

El multi laser escáner XC65Dx(-LS) captura todas las superficies 3D y funciones en un solo barrido.

Escáneres láser digitales de CMM LC60Dx

Los mejores escáneres lineales digitales que ofrecen la más alta velocidad de escaneo y que digitalizan prácticamente casi todas las superficies materiales.

Escáneres láser digitales de CMM LC15Dx

LC15Dx es un escáner CMM de alta resolución y alta precisión en el rango de precisión de mediciones táctiles. Con su pequeño campo visual, es perfecto ...

Un innovador microscopio digital portable que permite realizar de forma simple y con gran exactitud, inspecciones en campo y laboratorio de pequeñas o grandes piezas.

MMC óptica K-Series

Las MMCs ópticas son adecuadas para el escaneado sencillo en movimiento, mediciones con sonda de grandes objetos, metrología robotizada y mediciones dinámicas.

El brazo articulado de 7 ejes MCAx es el acompañante perfecto para los escáneres láser portátiles digitales ModelMaker MMDx/MMCx

BW-Serie: Sistema de microscopio interferométrico de luz blanca

Preciso perfilador sub-nano-superficie con medición sin contacto.

AZ100 Multizoom

Una nueva solución: microscopio zoom para aplicaciones de imagen macro en los mercados biomédicos e industriales.

Serie Eclipse L300N

Sistemas de microscopía para la inspección de obleas y máscaras de 300mm, para detectar defectos con luz reflejada.

Eclipse LV100DA-U

Microscopio motorizado con iluminación episcópica y diascópica, que permite el control de los objetivos, la intensidad de la luz, y el método de observación ...

Eclipse LV100ND

Microscopio motorizado con iluminación episcópica / diascópica que permite el control de los objetivos y la intensidad de la luz de la unidad de control de cámara y detect...

Microscopio de medición MM400/800

Microscopios de medición de alta precisión con la última tecnología en procesamiento de imágenes digitales

Microscopio de medición MM-200

Sistema de microscopía de medición compacto y asequible, con calidad, precisión y durabilidad excepcional.

Focus Automation

Focus Automation permite al usuario automatizar tareas de análisis e inspección repetitivos en Focus y Focus Scan Inspección.

NIS-Elements Microscope Imaging Software

Proporciona herramientas intuitivas para la captura de imágenes, análisis, archivo y uso compartido de imágenes.

Intuitivo paquete de software de procesamiento de datos para sistemas microscópicos industriales y de proyectores de perfiles.

Software Automeasure

Plataforma de software poderosa y fácil de usar para la medición y la inspección, para los sistemas de visión NEXIV de Nikon.

Software que entrega un verdadero poder a los usuarios de sistemas con rayos X y CT

La suite de software XT contiene software de control y análisis que mejora la velocidad y la funcionalidad de la gama de sistemas XT de rayos X para la electrónica y CT para la industria...

Nikon Metrology API

Nikon Metrology API permite el control del escáner y la adquisición de datos mediante software de nubes de puntos de terceros.

Este software para el digitalizado, inspección básica e ingeniería inversa se adapta a la mayoría de las aplicaciones de digitalizado láser manual y es compatible co...

Focus Inspection

Focus Inspection ofrece una inspección de la característica y la pieza completa respecto al CAD a partir de los datos de nubes de puntos o mallas procedentes de escáneres, esc&aac...

Focus Scan captura de datos rápida, fácil y precisa para el digitalizado láser con MMC

Software que entrega un verdadero poder a los usuarios de sistemas con rayos X y CT

La suite de software XT contiene software de control y análisis que mejora la velocidad y la funcionalidad de la gama de sistemas XT de rayos X para la electrónica y CT para la indust...

Servicios de inspección de rayos X y TC

Si fabrica componentes o módulos que incorporan plásticos, metales, cerámica, componentes electrónicos o cualquier combinación de lo anterior, Nikon Metrology tie...

Sistema de rayos X versátil XT V 160R

El XT V 160R es un versátil sistema de rayos X de micro-foco para inspección manual y programada de piezas electrónicas, semiconductores o pequeñas muestras industriales.

Sistema de rayos X para electrónica XT V 160

El XT V 160 está diseñado específicamente para inspección de rayos X en líneas de producción y laboratorios de análisis de fallos.

Sistema de rayos X para electrónica XT V 130C

El XT V 130C es un sistema de inspección muy flexible y económico para sistemas electrónicos y semiconductores.

Sistema de rayos X para electrónica XT V 130

Sistema de control de calidad compacto XT V 130 para visualización e inspección automatizada de rayos X.

Sistema CT industrial XT H 450

Sistema único XT H 450 LC para la inspección de álabes de turbina.

Sistema CT industrial XT H 225/320 LC

XT H 225/320 LC para la inspección general con rayos X y CT de muestras más grandes.

Sistema CT industrial XT H 225

XT H 225 para la inspección general con rayos X y CT.

MCT225 para TC de metrología: Precisión absoluta para geometría interior

MCT225 ofrece una precisión de medición y una detección de características pequeñas superiores para inspeccionar piezas de plástico de precisión, pi...

MCT225 HA Metrology CT: Precisión absoluta para geometría interior

MCT225 HA ofrece una precisión de medición superiores (3,8 m + L/50 de acuerdo con la norma VDI / VDE 2630) y la detección de características pequeñas para inspec...

CAMIO Multi-sensor CMM software

Interoperabilidad de CAMIO a través de plataformas de CMM, la tecnología de sensores y los centros de producción permite a los fabricantes para acelerar los tiempos de entrega y m...

CMM-Manager (Windows) es por mucho, el software para inspección táctil con la mejor relación calidad- precio del mercado, y funciona en casi todas las MMC manuales, CNC y port&aac...

Integración con I++

La estandarización de I++/DME permite que el software Camio se conecte con cualquier MMC líder que cuente con un servidor I++/DME. Esto proporciona poderosas capacidades de programaci...

Retrofit de hardware

La experiencia de retrofit de LK de Nikon Metrology no tiene comparación en el mercado, con más de 40 modelos diferentes de MMC que han recibido una adaptación LK. Cualquier...

Actualizaciones de software

Nikon Metrology puede adaptar su MMC con software de metrología 3D moderno y fácil de usar, para aprovechar al máximo su instalación de MMC.

MMC de brazo horizontal LK H Premium

La línea LK H Premium de MMC de brazo horizontal provee un rendimiento inigualable en velocidad, precisión y repetibilidad, siguiendo adelante con el enfoque innovador de LK en el dis...

MMC gantry LK V-GP de alta precisión

Fabricada para las aplicaciones de metrología a gran escala, la LK V-GP con sus railes elevados, ofrece lo mejor de todas las alternativas. Alta precisión con máximo volumen y ...

MMC de puente con estructura de doble rail

La LK V-R es una MMC de alta precisión fiable para grandes volúmenes, con diseño mejorado que integra una sección 'I' única, eje de cerámica...

MMC de puente LK V-SL (HA) de alta precisión

La LK V-SL con opción de HA (alta precisión) posee un diseño revolucionario que proporciona el máximo rendimiento para el escaneado y la inspección disponible ...

MMC de puente de alta precisión

Las MMC de puente LK V y LK V (HA) están diseñadas para proporcionar una solución de medición que cumple con los requisitos más exigentes de calidad industri...

MMC de puente cerámico ALTERA

La gama ALTERA de máquinas de medición coordinada (MMC) de primera calidad de Nikon Metrology proporciona una mejor productividad, metrología y flexibilidad, tanto ahora como de c...

Tecnología MMC LK

La gama LK de Máquinas de Medición Coordinada (MMC) de Nikon Metrology LK es la más avanzada en tecnología MMC. Diseñadas y fabricadas utilizando solamente los ma...

Eclipse LV150NA

La imagen digital combinada con el sistema óptico evolucionado.

Eclipse LV150NL

Un nuevo microscopio industrial diseñado especialmente para las aplicaciones de iluminación episcópica

Serie Eclipse LV150N

Sistemas modulares de microscopía de luz reflejada para la inspección de obleas y las aplicaciones científicas de los materiales.

Un microscopio en posición vertical con dinámica de enfoque automático que trae rápido, enfoque versátil para la inspección de semiconductores serie de micros...

Serie Eclipse L200N

Sistemas de microscopía para la inspección de obleas y máscaras de 200mm, para detectar defectos con luz reflejada.

Avanzado cargador IC oblea de inspección capaz de cargar 100μm obleas delgadas.

Sistema de medición portador de pastillas totalmente automatizado.

Modelo de reciente lanzamiento que tiene el rango zoom más amplio del mercado con una relación de 25:1 (0,63x - 15,75x). llega a una máxima maginificación de 315x. Tiene in...

Eclipse familia LV-N

Microscopios de inspección con iluminación episcópica y/o incidente para observaciones de luz reflejada y transmitida. Equipado con óptica corregida al infinito de alta res...

Microscopio de diseño universal para aplicaciones industriales y/o biológicas, de operación motorizada para el cambio de magnificación y de la iluminación de acuerdo...

Banco metalográfico digital con diseño exclusivo en forma de caja que permite un fácil acceso a la muestra colocada sobre la platina y al revólver portaobjetivos. Los contr...

Microscopio invertido metalográfico de rutina de diseño compacto. Optimizado para la documentación fotográfica digital con óptica corregida al infinito de alta resol...

Eclipse E200 POL

Adecuado para observaciones conoscópicas y ortoscópicas. Configuración con excelente compromiso calidad-precio. Polarizador, analizador y sistema de oculares prealineados de f&aac...

Adecuado para observaciones conoscópicas y ortoscópicas. Polarizador, analizador y sistema de oculares prealineados de fábrica que permiten operar en modo analítico verdade...

Eclipse LV100N POL

Microscopio de polarización con iluminación diascópica y/o episcópica adecuado para observaciones conoscópicas y ortoscópicas. Platina circular rotable de alt...

Código: MCA762JJMicroscopio de laboratorio con exclusiva óptica planacromática CFI 60 corregida al infinito que permite obtener imágenes claras de contornos altamente defin...

Nuevo diseño de lupas con óptica corregida al infinito. Tiene el sistema pótico sellado contra la humedad y descarga elesctrostáticaAcepta gran variedad de estativos con il...